喜提“雙料榮譽(yù)”，埃科光電用實(shí)力鑄就新“視”力！
發(fā)布時(shí)間：2022-10-12瀏覽量：5662次
榮耀延續(xù) 再奪雙獎(jiǎng)
9月中旬，由《Vision Systems Design》舉辦的“視覺系統(tǒng)設(shè)計(jì)創(chuàng)新獎(jiǎng)2022（VSDC Innovators Awards 2022）”正式揭曉獲獎(jiǎng)名單，埃科光電憑借6.04 億像素位移制冷工業(yè)相機(jī)（TTS604MCXP-6M/C）榮膺此次評(píng)選最高榮譽(yù)白金獎(jiǎng)。作為連續(xù)兩年唯一一家總分進(jìn)入前三名的中國企業(yè)，埃科光電同時(shí)還榮獲了2022年“中華成就獎(jiǎng)”。
今日（10月12日），埃科光電從主辦方手中接過了這份沉甸甸的獎(jiǎng)項(xiàng)，這是業(yè)界對(duì)我司實(shí)力的高度肯定！
《Vision Systems Design》舉辦的Innovators Awards多年來在海外享有盛譽(yù)，該獎(jiǎng)項(xiàng)旨在表彰在產(chǎn)品或技術(shù)、應(yīng)用程序或研發(fā)方面表現(xiàn)卓越的機(jī)器視覺行業(yè)公司。自去年引入國內(nèi)，首次評(píng)選，埃科光電便憑借8K彩色TDI線掃描相機(jī)PL8KCL-30KF榮膺金獎(jiǎng)，受到了行業(yè)的廣泛關(guān)注。今年，埃科光電榮譽(yù)延續(xù)，再奪雙獎(jiǎng)。
此次獲獎(jiǎng)的“TTS604MCXP-6M/C”是一款由埃科光電自主研發(fā)，通過應(yīng)用超分辨率圖像技術(shù)、嵌入式高速圖像處理算法、電制冷工藝、獨(dú)特的信號(hào)增強(qiáng)算法等關(guān)鍵核心技術(shù)，采取高速自動(dòng)化表面貼裝、高精度光學(xué)標(biāo)定與矯正等技術(shù)，生產(chǎn)的一款6.04億像素位移制冷工業(yè)相機(jī)。
該相機(jī)擁有6.04億超高分辨率；CoaXpress標(biāo)準(zhǔn)接口；最大幀率可達(dá)6.02fps (標(biāo)準(zhǔn)位移模式最大幀率1.5fps) ; 3.76*3.76μm像元；納米級(jí)像素位移技術(shù)，支持手動(dòng)位移和自動(dòng)位移；支持電制冷(低于環(huán)境溫度20°C) ，具備較高的可靠性和穩(wěn)定性。
▲ 領(lǐng)獎(jiǎng)現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品展示區(qū)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01、超分辨率圖像技術(shù)應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)更高分辨率疊加
相機(jī)內(nèi)嵌高精度的微動(dòng)控制系統(tǒng)，解決了微位移的對(duì)稱性、遲滯性、溫度漂移等各種技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)10nm的微位移精度；通過圖像重建和自學(xué)習(xí)兩類算法的結(jié)合，設(shè)計(jì)得到的超分辨率圖像融合算法有效實(shí)現(xiàn)了9倍于原始圖像分辨率的超分辨率圖像輸出，極大地提升了相機(jī)的分辨率。
02、嵌入式的高速圖像處理算法，整體圖像均勻性好
TTS604MCXP-6M/C相機(jī)通過色彩空間轉(zhuǎn)換、平場(chǎng)校正、自動(dòng)平衡等相關(guān)算法，能夠快速、簡(jiǎn)單的處理圖像，使得整體圖像均勻性較好，具有成本低、通用性強(qiáng)、開發(fā)維護(hù)簡(jiǎn)單、穩(wěn)定性良好等優(yōu)點(diǎn)。
03、獨(dú)特的電制冷工藝，大幅抑制暗電流噪聲
在檢測(cè)行業(yè)，尤其是高精密檢測(cè)行業(yè)，對(duì)成像的噪聲要求極高，通過運(yùn)用成熟的電制冷技術(shù)(傳感器工作溫度最大可低于環(huán)境溫度20度)，可大幅度抑制暗電流噪聲，減少熱噪聲帶來的影響，成像上更有保障。
04、獨(dú)特的信號(hào)增強(qiáng)算法，提高相機(jī)的信噪比
通過埃科光電自主研發(fā)的獨(dú)特的信號(hào)增強(qiáng)算法，提高相機(jī)的信噪比。無需人工干預(yù)，可以依據(jù)實(shí)際圖像信息自動(dòng)優(yōu)化算法，圖像增強(qiáng)效果好，在不影響圖像信噪比的情況下可以有效提高邊緣銳度和對(duì)比度；可以做到實(shí)時(shí)處理，具有極大的優(yōu)越性。
TTS604MCXP-6M/C目前主要應(yīng)用于高精度機(jī)械測(cè)量 、FPD、3C 組件外觀檢測(cè)、晶圓表面檢測(cè)、電子元器件視覺檢測(cè)、天文觀測(cè)、科學(xué)實(shí)驗(yàn)等多個(gè)領(lǐng)域，滿足超高精度檢測(cè)需求。
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